一種雜散光主要受光學(xué)系統(tǒng)缺陷影響,例如光學(xué)元件透鏡、光束孔徑不相匹配,光枴等元件的損傷,。723分光光度計(jì)這些光線波長與測定波長不同,由于種種原因偏離正常光路而被檢測器接收。通常所指的雜散光多是由于儀器光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)不合理零件加工不精細(xì)、運(yùn)輸安裝過程發(fā)生位移等造成的,屬于儀器設(shè)計(jì)本身的問題。上海菁華723分光光度計(jì)其中光柵是雜散光的根本來源,它引起的雜散光占總量的80%以上,成為測量中誤差的最大來源。上海菁華科技儀器有限公司在實(shí)際的723分光光度計(jì)定量分析過程中,容易出現(xiàn)“假吸收峰”現(xiàn)象。即當(dāng)光譜掃描的波長低于220nm時(shí),短波長增加了原樣品的吸收,而邊緣波段的雜散光在短波情況下會(huì)直線增加,而雜散光透過率增加而大部分都通過,造成“假吸收峰”,使實(shí)際吸收光度大于測量吸光度,引起誤差。